Sulfur passivation for the formation of Si-terminated Al2O3/SiGe(0 0 1) interfaces
2016 · Applied Surface Science
저자
Kasra Sardashti, Kai-Ting Hu, Kechao Tang, 박상욱 (Sangwook Park), Hyonwoong Kim, Shailesh Kumar Madisetti, Paul C. McIntyre, Serge R Oktyabrsky, Shariq Siddiqui, Bhagawan R. Sahu, N. Yoshida, Jessica S. Kachian, Andrew C. Kummel
연구주제
Semiconductor materials and devices
NTIS 과학기술표준분류
에너지/자원만에너지·환경·원자력 확장
지원 과제·AI 키워드로 잡을 근거가 없어 분류하지 않았다.
AI 연구 키워드·방법
gate oxide interface silicon germanium semiconductor sulfur passivation
키워드 (OpenAlex)
sulfur passivation interface chemical composition leakage current surface cleaning
초록
초록 없음
이 논문을 지원한 국가R&D 과제 (NTIS 성과)
NTIS 성과DB(2020–24)에서 DOI 매칭 없음
인접 그래프
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